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전계방출형 주사전자현미경
(FE-SEM)

CIQTEK 사의 FE-SEM은 0.6nm~0.9nm 의 매우 높은 분해능을 제공하며 inlens detector가 기본 장착되어 있고 시료의 전도성 코팅을 하지않고도 저전압에서 고해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. 뿐만 아니라 최신 전자 광학 컬럼 설계 및 고압 전자 빔 터널(Super Tunnel) 기술이 적용되어, 저수차 및 고해상도의 이미징 성능을 발휘합니다. 이로 인해 다양한 형태의 시료를 분석할 수 있습니다. 유센트릭 5축 스테이지와 큰 AirLock 모듈을 통해 정확한 위치 제어와 시료 교환을 용이하게 합니다.

5000Pro

■  Line up & 규격

FE SEM 규격
4000pro-4.png

SEM4000Pro

5000Pro04.png

SEM5000Pro

5000X-4.png

SEM5000X

■  공통 특징​​​

​​​​      ▶ Mechanical 유센트릭 5-axis stage
         • 기계적 정확도가 높은 볼 스크류 사용
         • Tilt 축 지지 강도가 향상되어 이동 정확도와 안정성 향상

Mechanical 유센트릭 5축 스테이지

​​​​      ▶ Low Vacuum Mode
         • 압력 제한 조리개 없이 10 - 180 Pa 도달
         • 전자 평균 자요 경로를 최소화하여 1.5nm (@ 30kV) 해상도 달성

Low vacuum mode

G : Gas molecules
+ : Positive ions
e- : Electrons
    : Secondary electrons
    : Scattered electrons
    : Photons​​​​

* Low Vacuum Mode *
   - 시료 표면에서 방출되는 2차 전자가 공기분자를 이온화하고 동시에 전자, 이온, 광자를 생성
   - 생성된 전자가 다른 공기 분자를 추가로 이온화하여 저진공 2차 전자 검출기(LVD)가 이 과정에서 생성된
     다량의 광자 신호 포착      
                 

Beam charge up

​​​​      ▶ 직관적인 소프트웨어
         • 한번의 클릭으로 다수의 기능을 자동화하여 결과를 얻을 수 있습니다.
         • 측정 tool: 길이, 면적, 진원도, 각도 및 기타 측정 기능 포함
         • 대형 FOV 맵핑: 넓은 범위를 자동으로 이미지 맵핑(스티칭) 가능

 

Software

​​​​            빠른 이미지 스캔 회전
            – 선을 드래그 하면 이미지의 각도가 조정됩니다. 

이미지 회전

​​​​           2개의 camera
           – Optical navigation camera와 monitoring in specimen chamber
              camera 설치로 HD급 화질의 사진을 촬영하여 한번의 클릭으로
              시료 위치를 빠르게 찾아갈 수 있습니다. 
           – 시료 출동 방지 기능
              1) 시료 높이 수동 입력
              2) 이미지 인식 및 모션 캡쳐
              3) 시료 스테이지 흡수 전류
                  모니터링 

2x camera

         • Quick gesture navigation
           마우스를 두 번 클릭하여 이동하고, 드래그하면 프레임이 확대되어 
           빠르게 관찰 부위를 탐색할 수 있습니다.

            Exp: Fram Zoom - 저 배율 내비게이션으로 분석 위치를 크게 볼 수 
            있도록 원하는 영역을 빠르게 프레임화하고 자동으로 이미지를 확대하여
            효율성을 높일 수 있습니다. 

Quick gesture navigation

         • Intelligent assisted astigmatism
           전체 시야에서 높낮이가 있는 초점 심도를 보정해 주는 기능으로, 마우스 
           클릭만으로 빠르게 수정하도록 자동 조정 합니다. 

Auto focus (자동 촛점)

Auto focus

Auto stigmator

Auto brightness & contrast

Auto stigmator
Auto brightness & contrast

         • Auto particle analysis
           Mask-RCNN 객체 검출 및 인스턴스 분할 알고리즘을 사용하면 파라미터
           조정 없이 이미지의 입자를 정확하게 식별할 수 있습니다. 

Particle analysis
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